来源：Anandtech
作者：Kristian Vättö
发布时间：May 13, 2015
目的：论坛有关于该内容的提问，在一些曾经的回复中，仅用一图流给论坛用户会造成了误导
译文(bing翻译+个人修正。注：目前学术翻译MS的最好，中文语序和逻辑优于google翻译)：
在过去的一周里，相当多的媒体都发表文章，声称如果不通电，SSD将在几天内丢失数据。虽然这些报道确有一些（非常非常少）的真相，它引发了各大论坛的讨论，也造成了一些混乱。我甚至收到了一些问题，是关于这些文章真实性的质疑。所以，与其通过个人电邮或推特回复想知道更多真相的人，不如我现在对每个人深入解释下这个问题。
首先，每个人都在谈论的演示文稿可以在这里找到。与报道的一些网站不同，这不是希捷的介绍——这是当时JC-64.8小组委员会（即SSD委员会）主席Alvin Cox的官方JEDEC演讲，这意味着它应该作为所有SSD供应商的客观信息来源。然而，考克斯先生在希捷担任高级工程师是事实，但这无关紧要，因为JEDEC的全部目的是让制造商团结起来，制定开放标准。委员会成员和主席都在一些公司工作，目前JC-64.8小组委员会由HGST的Frank Chu领导
在讨论实际数据保留主题之前，让我们重点介绍制造商确定 SSD 的耐久性等级时必须满足的条件，从而归纳情况。
首先，SSD必须保持其容量，这意味着它不能废弃过多数据块(Block)，否则使用容量会减少。
其次，SSD必须满足所需的 UBER（位数bit读取的错误率 ）规范，以及符合功能故障要求。
最后，SSD必须在不通电的情况下一定时间内保留数据，以满足 JEDEC 规范。
请注意，这是在达到最大写入量[写入寿命耗尽]时，做到上述内容。即如果SSD的写入寿命是100TB，则必须在写入 100TB 后满足这些规范。
上表总结了客户端和企业 SSD 的要求。我们可以看到，普通用户SSD 的数据保留要求为 30°C 的环境为期一年，高于典型室温。数据保留时效取决于温度，因此让我们仔细看看如何随温度而改变。
请注意，上表中的数据基于英特尔发送的材料，而不是希捷发送的材料
在通电 40°C 和断电 30°C 温度下，SSD 将将数据保留 52 周，即一年。如表所示，数据保留与活动温度成正比，与断电温度成反比，这意味着较高的断电温度将导致保留率下降。在活动温度仅为 25-30°C 且断电为 55°C 的最坏情况下，数据保留时间可能短至一周，这是许多网站所炒作“数据在几天内丢失”的言论。是的，它在技术上可能发生，但不是在典型的用户环境中。
在现实中，55°C 的断电温度对于客户端用户来说根本不现实，因为SSD很可能在室温下存储在室内某处（壁橱、地下室、车库等），温度往往低于 30°C。另一方面，活动温度通常至少为 40°C，因为电脑中的硬盘和其他元件会产生热量，使之超过室温
Control Gate: 控制栅
ONO: 氧化层
Floating Gate: 浮动栅
Tunnel Oxide: 隧道氧化层
Silicon: 硅
与一般原理一样，数据保留的时长是有技术解释的。半导体的导电率随温度而变化，这对NAND来说是个坏消息，因为当它不通电时，电子不应该移动，因为这会改变单元(cell)的电荷。换句话说，随着温度的升高，电子更快地从浮动栅中逸出，最终改变单元的电压状态，使数据不可读（即SSD不再保留数据）。
对于正常通电使用时，温度具有相反的效果。由于较高的温度使硅导电性更高，因此在编程/擦除操作过程中电流较高，对隧道氧化层的压力较小，从而提高了单元(cell)的耐久性，因为隧道氧化层保持电子在浮动栅内的能力实际上决定了SSD的耐久性[寿命]。
总之，在典型的客户环境中，绝对没有理由担心 SSD 数据保留时长。请记住，此处提供的数字适用于已通过其耐久性考核的SSD（写入量达到标称值）[潜台词就是隧道氧化层将电子控制在浮动栅的能力已经变得较差了]。因此对于新SSD，数据保留时长要久得多，通常对于基于全新的MLC NAND的SSD来说，数据保留时长通常会超过十年。如果你今天买了一个SSD，并存储数据，SSD本身将变得完全过时比它将失去它的数据更快。此外，考虑到 SSD 的成本，将它们用于冷存储无论如何都不经济高效，因此，如果您希望存档的数据，我建议仅出于成本原因使用机械硬盘。
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总之就是放心买呗
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希捷的阴谋？哈哈
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符合JEDEC标准的企业，消费者可以放心买。不符合JEDEC标准的，显然不属于讨论行列了至于哪些OEM生产的SSD不符合JEDEC标准，就仁者见仁智者见智了。
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隔壁论坛做SSD耐久测试都会做烘烤测试的...大概就是这个道理
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与其担心正品ssd，还不如担心一下那些个不知名牌子用的不知道来源颗粒的u盘。
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之前翻出一块8年未通电的笔记本用1.8inch ssd，正常引导进入系统。
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这种扰乱视听的东西太多了，因为很多人就根本不会去深究到底怎么回事，就好像SSD的寿命问题，实际上普通人用根本就用不完
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你用二进制改几个字节，照样能进系统，更别说位了
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正常家用不用担心保存期限
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我机箱里有块90G的老SSD，用来充当硬盘架的支撑结构，不接电+机箱内高温，没准真的符合失效条件。不过有生之年应该是不会去用了
a09a805bly1gfu69e95kfj218y0u0npd.jpg (235.53 KB, 下载次数: 0)
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别的不谈，工作25度存储55度是很可能的，比如倒完数据拔了线但没从机箱里拿出来
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还真不行，你改几个启动用的字节，就会触发sfc。
另外linux下倒是可以改几个ramfs的字节，这主要是ramfs的模块化设计，几个模块崩了恢复模式下还可以进系统。
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数字签名的目的就是为了确保文件完整性，只要不是刚好坏在这几个文件上，你不检测永远不知道这个文件坏了，没有数字签名的文件坏几个字节只要程序不是刚好会用到这段是不会出异常的
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ORZ。。不懂为什么突然要跟我“科普”这个。。。
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还不是你提了那些一改就能主动检测到的问题
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不是一改就能检测到，第一次启动会蓝屏，一般都是某某驱动错误，第二次就会主动进行sfc检测。如果是系统文件有问题，基本上sfc后就好了，如果是3rd驱动那么sfc也没用，继续蓝，唯一的方法就是拔了设备进系统。
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蓝屏就是抛出异常被记录了，刚好读到，相当于检测到问题，读不到就是间歇性蓝屏，我觉得理解上应该没问题才对，一个是读完并校验，一个是读了不一定全部都用，前者坏了能发现，后者坏了也不一定就出问题
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三星970evo 2t 游戏盘，一年半没用，开机玩依然猛
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你说的跟我说的不是一回事。
我说的是，windows启动要载入一堆驱动，哪怕一个驱动有位翻转，就会失败进入sfc。（举了一个对比的例子，linux在initramfs的时候，如果有驱动corruption的情况也可以跳过）
我想说的是，8年前的os可以正常引导，意味着这么多驱动都没有发生位翻转的情况。
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也不能说没有位翻转
万一有呢？
只不过直接被主控给纠错纠回来了
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能被纠错回来也就代表错误率还在冗余设计范围内，就相当于没错咯。本来也不是一个绝对的概念。硬件上纠错完了还有软件上的纠错，只要能纠错回来其实都算ok。
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其实就是一回事，windows启动加载数据量并不大，如果那么小范围的量都会发生大量错误，那么放大后就不是一个量级了，那是很可怕，说明根本不具备长期保存的条件
8年前都很安全，那么一些人就会理解成，完全没必要担心，零概率，他们有些甚至连数据完整性都不知道，如果你的启动过程中发现一个文件损坏，哪怕仅仅是一个，理解上就完全是另一回事了，大致就是这么个回事，有些文件坏了就是坏了，没法还原，不像大部分文件网络上都有镜像可以重新下载
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温度55度对m2硬盘不能算少见吧，比如sn750,三星系列
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但是，运行过程中，在某个范围内。越高反而越好
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windows启动加载的数据量不大，但如果“SSD随着时长会位翻转”是高概率，那么系统文件和驱动文件刚好没有corruption的概率几乎不存在。
SSD位衰减等于是在SSD上做全盘蒙特卡洛法，并不会刻意绕开系统文件和驱动文件，其概率应该是 衰减的概率 * 系统驱动文件占的block的比率，当然最终要受到纠错算法的纠错。
而驱动和系统文件的特点就是仅仅有少数几位错误也会导致能够直观的观察到系统的异常，比较好判断ssd是否有超过纠错冗余的错误发生。
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当然主楼的结论也很奇怪。
ssd即使过时了，如果它能继续持有数据，那么做一个静态储存也是非常好的，而不是因为ssd会位衰减而必须将数据拷贝回hdd。
所以跟ssd过不过时没关系。
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那就是全在碰运气，实际上SSD的位翻转并不是随着时间越长概率越高，完全是随机的，并不是线性的，这样测试SSD自身纠错能力是不是过于草率呢，我还要看直播，讨论的有点多了
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我只是说一个概率上的结论，这个世界是概率的。
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楼主文章主要讲了SSD在设计寿命里应该达到的可靠性，以及数据完整性的周期在大部分环境下是可信任的，过时指的是IDE硬盘，现在已经淘汰
你说的有道理哎，我比较想知道win10安装完30g，有多少G的系统文件是有校验保护的？如果开机作校验，会拖慢系统速度把，他真的会去都校验吗？
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你装完有30G，忒大了。
应该不会，只有系统崩了才会去扫。当然不排除有些文件因为安全原因去做验证的，具体只有微软知道。
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那种提高温测试的目的其实是“加速”尽快测出颗粒寿命极限。。。要不然花时间太长了 电路 电子 维修 求创维42c08RD电路图 评论 电视的图纸很少见 评论 电视的图纸很少见 评论 创维的图纸你要说 版号，不然无能为力 评论 板号5800-p42ALM-0050 168P-P42CLM-01 电路 电子 维修 我现在把定影部分拆出来了。想换下滚，因为卡纸。但是我发现灯管挡住了。拆不了。不会拆。论坛里的高手拆解过吗？ 评论 认真看，认真瞧。果然有收
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